Anno accademico 2008/2009 - lauree specialistiche

[ELENCO COMPLETO]
  1. Matematiche complementari 2.
  2. Meccanica statistica.
  3. Metodi della fisica teorica.
  4. Metodi di approssimazione.
  5. Metodi sperimentali della fisica moderna 1.
  6. Metodi sperimentali della fisica moderna 2.
  7. Radioattività e radioprotezione.
  8. Spettroscopia.
  9. Spettromicroscopie di superficie.
  10. Storia delle matematiche 1.
  11. Storia delle matematiche 2.
  12. Struttura della materia 1.
  13. Struttura della materia 2.
  14. Superconduttività.
  15. Tecniche fisiche per la diagnostica biomedica.
  16. Teoria della misura.

37. Spettromicroscopie di superficie

prof. Luca Gavioli


OBIETTIVO DEL CORSO

Il corso presenta alcune tecniche di microscopia e spettroscopia a scansione largamente
utilizzate in molte discipline scientifiche, in modo da fornire gli strumenti per capire
criticamente i risultati sperimentali presentati su articoli di ricerca. Particolare attenzione
viene posta all’applicazione delle tecniche a nanostrutture, microstrutture e sistemi a bassa
dimensione.

PROGRAMMA DEL CORSO

Introduzione alle tecniche di analisi
Controllo dell’ambiente di misura. Sistemi da vuoto.
Scanning tunneling microscopy (STM)
Scanning tunneling spectroscopy (STS)
Scanning electron microscopy (SEM)
Scanning Auger microscopy (SAM)
Atomic force microscopy (AFM)
Atomic force spectroscopy (AFS)

Esempi di applicazioni delle tecniche a nanostrutture e sistemi a bassa dimensione.


BIBLIOGRAFIA
(nota: tutti i testi sono reperibili presso il Prof.)

a. foster – W. hofer, Scanning Probe Microscopy. Atomic Scale Engineering By Forces And Currents,
Springer, 2006.
r. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy. Cambridge University Press.
f.J. giessibl, Advances in atomic force microscopy, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003).
a. zangWill, Physics at Surfaces, Cambridge University Press.ù
h. lüth, Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer.
f. bechstedt, Principles of Surface Physics, Springer.
b. ferrario, Introduzione alla tecnologia del vuoto, Patron editore.
K. oura - v. g. lifshits - a. a. saranin - a. v. zotov - m. Katayama, Surface Science: An Introduction,
Springer.
Surface Science: The First Thirty Years, Ed. by C. B. Duke, Elsevier.

DIDATTICA DEL CORSO
Il corso si articola in lezioni in aula.

METODO DI VALUTAZIONE
Prova orale comprendente un approfondimento, a cura dello studente, di uno degli argomenti
a scelta del corso, seguito da domande sugli argomenti trattati nel corso.

AVVERTENZE
Il prof. Gavioli riceve in ufficio previo avviso via e-mail per definire l’orario: luca.gavioli@
unicatt.it



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