Anno accademico 2010/2011 - lauree magistrali

[ELENCO COMPLETO]
  1. Istituzioni di fisica matematica I.
  2. Istituzioni di geometria superiore I.
  3. Istituzioni di geometria superiore II.
  4. Matematiche complementari I.
  5. Matematiche complementari II.
  6. Meccanica statistica.
  7. Metodi sperimentali della fisica moderna.
  8. Ottica quantistica.
  9. Spettromicroscopie di superficie.
  10. Struttura della materia.
  11. Teoria dei campi e delle particelle elementari.

23. Spettromicroscopie di superficie

prof. Luca Gavioli


OBIETTIVO DEL CORSO

Il corso presenta alcune tecniche di microscopia e spettroscopia a scansione largamente
utilizzate in molte discipline scientifiche, in modo da fornire gli strumenti per capire
criticamente i risultati sperimentali presentati su articoli di ricerca. Particolare attenzione
viene posta all'applicazione delle tecniche a nanostrutture, microstrutture e sistemi a bassa
dimensione.

PROGRAMMA DEL CORSO

Introduzione alle tecniche di analisi
Controllo dell'ambiente di misura. Sistemi da vuoto.
Scanning tunneling microscopy (STM)
Scanning tunneling spectroscopy (STS)
Scanning electron microscopy (SEM)
Scanning Auger microscopy (SAM)
Atomic force microscopy (AFM)
Atomic force spectroscopy (AFS)
Esempi di applicazioni delle tecniche a nanostrutture e sistemi a bassa dimensione.

N.B.
Gli studenti della Laurea Specialistica in Fisica che hanno a piano studi l'insegnamento di
Spettromicroscopie di superficie da 5 cfu, dovranno concordare il programma direttamente
con il docente.

BIBLIOGRAFIA
(nota: tutti i testi sono reperibili presso il Prof.)
A. Foster - W. Hofer, Scanning Probe Microscopy. Atomic Scale Engineering By Forces And Currents,
Springer, 2006.
R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy. Cambridge University Press.
F.J. Giessibl, Advances in atomic force microscopy, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003).
A. Zangwill, Physics at Surfaces, Cambridge University Press.ù
H. Lüth, Surfaces and Interfaces of Solid Materials, Springer.
F. Bechstedt, Principles of Surface Physics, Springer.
B. Ferrario, Introduzione alla tecnologia del vuoto, Patron editore.
K. Oura - V. G. Lifshits - A. A. Saranin - A. V. Zotov - M. Katayama, Surface Science: An Introduction,
Springer. Surface Science: The First Thirty Years, Ed. by C. B. Duke, Elsevier.

DIDATTICA DEL CORSO
Il corso si articola in lezioni in aula.

METODO DI VALUTAZIONE
Prova orale comprendente un approfondimento, a cura dello studente, di uno degli argomenti
a scelta del corso, seguito da domande sugli argomenti trattati nel corso.

AVVERTENZE
Il prof. Gavioli riceve in ufficio previo avviso via e-mail per definire l'orario: luca.gavioli@
unicatt.it



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